時 間：94 年8 月19 日（星期五）

地 點：東南技術學院 機械系奈米研討室（信義樓104 室）

台北縣深坑鄉北深路三段152 號

主辦單位：教育部北區奈米科技人才培育中心

承辦單位：東南技術學院 機械工程系

授課教師：李志偉副教授、黃仁清老師(博士候選人)

報名費用：業界人士2500 元，學術界2000 元，學生1500 元。

含午餐、講義費、探針等耗材費。

報名方式：於8月16日前將報名表以電話、傳真或電子郵件方式寄至東南技術學院機械系周志強老師收。

電子郵件：jc_huang@mail.tnit.edu.tw

名額限制：15 人

課程簡介： 掃描式探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope, SPM）是一種新進且發展快速的奈米尺度顯影技術，是在探針與樣品表面僅距離數奈米的狀況下，利用探針與樣品表面間各種不同型式的交互作用，諸如凡得瓦力、磁力、表面阻 力等來進行奈米尺度表面形貌成像，自從1982年發展以來至今已經衍生了許多不同的應用，且發展出原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope，AFM)，磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscope, MFM)、側向力顯微鏡(Later Force Microscope,LFM)等多種量測形式。而其運用的範圍已擴及表面物理、生命科學、材料科學以及奈米量測、半導體檢測、超精密加工等學術、工程研究與實際運用。因此本研討會將詳細介紹原子力顯微鏡之基本原理以及親自動手操作原子力顯微鏡，可使參與者在最短時間內建立對奈米級量測的完整認識。